> Ellipsomètre VVASE

Manufacturier : J.A. Woollam

 

Rôle de l'appareil

   L’ellipsomètre V-VASE de Woollam est un appareil capable d’analyser les couches minces sur différents matériaux opaques ou transparents avec une grande précision.

 

Spécifications techniques

• Longueur d’ondes: de 240 nm à 2500 nm (résolution de 0.05 nm)
• Mesures en réflexion ou transmission
• Porte-échantillon micro-métrique balayant une surface de 45 mm x 45 mm sur échantillon jusqu’à 150 mm

 

Accessoires

• Analyse ellispométrique en température de 20ºC à 300ºC
• Auto-retardeur pour mesure de dépolarisation
• Sonde de focus pour taille de sonde de 100 µm

 

Exemples de procédés et de services disponibles

• Mesure d’épaisseur de films anisotropique
• Mesure de transmission de lentilles diélectrique

Tarif Académique | Industriel :
35 $/h | 105 $/h