Caractérisation (nanomatériaux et nanodispositifs)

[Liste des équipements]

 

Caractérisation de Nanomatériaux:

- Station de microanalyse Nucléaire (RBS et ERD)

- Spectroscope des Photo-électrons par Rayons X (XPS), VG Escalab 220i XL

- Diffractomètre des rayons X (DRX), Panalytical X-Pert PRO MRD

- Diffractomètre des rayons X (DRX), Bruker D8 Advance

 

Microscopie:

- Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM), Veeco Multimode (Digital Instruments)

- Microscope à Force Atomique (AFM), Veeco Enviroscope (Digital Instruments)

- Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM) travaillant sous ultravide, Jeol 4500 UHV AFM/STM

- Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM) travaillant sous ultravide, Omicron Nanotechnology VT UHV STM / AFM

- Microscope à Force Atomique (AFM), XE-150 (Park Systems)

- Microscope Électronique à Balayage (MEB), Jeol JSM-6300F

- Microscope Électronique à Balayage (MEB), Jeol JSM-7401F

- Microscope Optique, Nikon Eclipse L200

- Profilomètre, Ambios XP2

 

Nanodispositifs - caractérisation optique:

- Caractérisation Électro-optique de matériaux

- Caractérisation et mise en forme d’impulsions optiques

- Caractérisations linéaires et non-linéaires de dispositifs nanophotoniques

- Ellipsomètre, J.A. Woolam M-2000

- Ellipsomètre, J.A. Woolam VVASE

- Mesure de couplage par prisme, Metricon 2010/M

 

Nanodispositifs - caractérisation électrique:

- Wire-bonder, KS4523

- Probe Station, Alessi 4500

- Probe Station, Cascades Summit 11000